R&S®FSPN – 高灵敏度满足高速度要求

雷达和卫星通信等下一代技术提供高数据率，需要创新的测试解决方案来开发和制造射频组件。

罗德与施瓦茨发布 R&S®FSPN，为相位噪声分析仪产品组合新添一员，提高了实验室和生产中相位噪声测量

与 VCO 特性测量的效率和可重复性。 观看视频，了解更多！

主要特点

▶ 频率范围 ：1 MHz ~ 8 / 26.5 GHz
▶ 通过双频综和互相关的高灵敏度相位噪声测量 ：
    -163 dBc/Hz（典型值，1 GHz 频率，10 kHz 偏移）
▶ 相位噪声灵敏度： -163 dBc / Hz（典型值、1 GHz、10 kHz 偏移）
                              -143 dBc / Hz（典型值、10 GHz、10 kHz 偏移）
▶ 内置超低噪声直流源，自动评估 VCO 特性
▶ 标配硬件互相关的快速测量
▶ 可以同时评估相位噪声和幅度噪声
▶ 噪声极低的内部直流源，便于自动进行 VCO 特性测量
▶ 自动 SCPI 记录，完全兼容 R&S®FSWP

▶ 提高实验室和生产的效率与可重复性

R&S®FSPN 相位噪声分析仪和 VCO 测试仪具备出色的灵敏度和测量速度，可以测量合成器、压控振荡器、恒温晶体

振荡器和介质振荡器等信号源的特性。这款仪器非常适用于在严苛的开发和生产应用中进行相位噪声和 VCO 分析。

仪器配备两个低相位噪声合成器和实时互相关引擎以提高测量灵敏度，只需少量的互相关即可在生产中测量高质量振

荡器、合成器或压控振荡器。增加互相关数量，能够在研发中测量极为灵敏的商用合成器和振荡器的特性。

▶ 优越的测量速度

R&S®FSPN 具有出色的相位噪声灵敏度，在评估 DRO 和 OCXO 等振荡器时，与同类产品的其他解决方案相比，

可以用大约百分之一的相关次数进行测量。通过内部高速处理器和 FPGA 可以即时进行数据处理和分析，从而减

少高质量内部信号源测量相位噪声所需的相关次数。这样，缩短测量时间，提高测量吞吐量。

▶ 高灵敏度的相位噪声测量

R&S®FSPN 可以使用互相关功能来测量比内部高质量信号源的相位噪声更低的相位噪声。由于原始灵敏度高，

所需的相关次数很小。例如，如果将相关次数增加 10 倍，R&S®FSPN 固有相位噪声将减少 5 dB。FSPN 高质量

源的优势可以缩短生产线上的测量时间。另外，R&S®FSPN 同时评估相位噪声和幅度噪声，可以在一个画面上的

不同的窗口中显示。虽然很难预先确定所需的相关数的情况，但迹线下方的灰色区域可以帮助估计所选相关数的可

实现灵敏度和互相关增益。

▶ 高速 VCO 特性评估

借助非常低噪声的内部直流源，R&S®FSPN 可以测量 VCO 在各种调谐电压和电源电压下的相位噪声。快速进行使

调谐电压和电源电压变化的 VCO 特性评估，并瞬时测量主要参数。对于多数 VCO 制造商来说，抑制引起系统内干

扰的高次谐波是重要的关注点，R&S®FSPN 可以测量 VCO 对调谐电压的高次谐波功率。

▶ 通过最大 8GHz 带宽的瞬态分析

频综和信号源的详细特性评估、特别是瞬态分析（时域宽带频率和相位测量）对于设计工程师来说至关重要。

R&S®FSPN 使用最大 8GHz 的带宽，可以详细评估跳频后的建立时间、斜坡和开关时间等频综的特性。

想要详细分析 PLL 瞬变等的窄带特性评估，R&S®FSPN 对应高达 40 MHz 的窄带分析。显示器显示所有

迹线的余晖模式，可以轻松估计参数的变化程度和是否存在异常值。